Mikroskopia elektronowa SEM

Skaningowy mikroskop elektronowy z możliwością pracy w trybie wysokiej i niskiej próżni, co pozwala na analizowanie próbek przewodzących i nieprzewodzących. Posiada możliwość obrazowania SE (secondary electron) i BSE (backscattered electron), jest także wyposażony w analizator EDS (energy dispersive X-ray spectroscopy) firmy Oxford i analizator EBSD (electron backscatter diffraction) firmy Bruker.
 
Możliwości badawcze:
 
  • Analiza jakościowa i ilościowa oraz mapowanie składu pierwiastkowego próbek.
  • Ocena fraktografii powierzchni pęknięcia umożliwiająca stwierdzenie charakteru przełomu, nieciągłości materiałowych oraz np. kruchości wodorowej.
  • Analiza wielkości i rodzaju wtrąceń niemetalicznych.
  • Liniowa mikroanaliza powłok i warstw dyfuzyjnych.
  • Klasyfikacja zanieczyszczeń na sączkach - badania czystości technicznej.
  • Możliwość badania próbek o większych gabarytach (300x200x200 mm) ze względu na dużą komorę.

 

Aparatura

 
  • Skaningowy mikroskop elektronowy SEM EVO MA25 z analizatorem EDS firmy Oxford Instruments oraz analizatorem EBSD firmy Bruker